| 過程檢驗

1）采用原子力顯微鏡（AFM）對電拋后的基帶、隔離層的表面粗糙度進行檢驗。

2）采用X射線衍射儀對涂層的物相、結晶情況及薄膜面內面外織構度、薄膜應力情況等進行測定，以保證生產中各層薄膜質量符合制備工藝要求。

3）采用掃描電子顯微鏡（SEM）對各涂層的表面形貌和分切切口進行觀察。

4）采用探針式輪廓儀對各涂層的厚度進行檢測。

從左至右分別為AFM、XRD、SEM、探針式輪廓儀

| 出廠檢驗

1）采用MCorder高溫超導帶材臨界電流均勻性測試系統對超導長帶的電流均勻性進行測定。

2）采用PPMS綜合物性測量系統對長帶端樣進行低溫高場性能測試，4.2K 0-6T（全檢）4.2K 0-12T（抽檢）。

3）分別用倒帶機、千分尺、游標卡尺對帶材的幾何尺寸（長度、厚度、寬度）進行測量。

MCorder高溫超導帶材臨界電流均勻性測試系統